随着LED市场的快速发展，寿命评估已成为新兴照明应用的重点。
传统的热管理面临着巨大的挑战：传统的温度测试并不适合测试所有的灯具，因此迫切需要一种有效，快速的寿命评估方法来支持和促进LED产业的发展。
桂林电子科技大学院长，教授杨道国教授作了题为“ LED灯寿命的快速测试：步进压力加速测试”的报告。
在2012年中国国际半导体照明论坛上，指出半导体行业通常具有可靠性测试方法：连续加速测试。
但是，此测试不适用于高可靠性产品，因此必须设计步进式压力加速测试以缩短测试时间。
杨道国教授提出的步进压力加速测试具有以下优点：适用于长寿命产品，测试时间短，测试样品少，并显示了LED产品潜在的可靠性测试应用。
其次，步进压力加速测试研究了LED产品。
基于设计的实验已经获得了一些初步的结果。
根据该实验的结果，可以得出结论，快速寿命评估方法适用于LED产品。
由于内部测试和寿命的差异，可靠性测试面临许多挑战。
逐步压力加速测试是一种有效的方法，并且已经进行了初步测试。
我希望该模具将来也可以进行测试，并有望获得更多结果。
在谈到有效性测试时，杨道国教授说，目前有几种方法可以减少测试时间和成本。
例如，组合各种子系统以建立完整的系统方法。
将仿真结果与实际结果进行比较，发现改变了长期的节温机理。